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技術(shù)支持

Taylor Hobson CCIMP白光干涉應(yīng)用領(lǐng)域

更新時間:2020-10-09   點(diǎn)擊次數(shù):1439次

許多用戶依靠CCIMP解決其他儀器*無法處理的測量問題。憑借出色的量程、很高的分辨率以及操作簡便的優(yōu)勢,成為在眾多應(yīng)用場合中研發(fā)和質(zhì)量保證的理想工具。

●材料研究
●軸承粗糙度
●拋光光學(xué)器件
●織紋鋼
●金剛石車削
●汽車噴油器
●表面結(jié)構(gòu)

●SIMS凹面
●晶圓粗糙度
●晶圓蝕刻深度
●太陽能電池.

●醫(yī)療植入物
●密封面
●曲軸加工
●儲油率(軸承)
●紙/碳粉
●手機(jī)耳機(jī)
●牙齒磨損.

●LED
MEMS
●數(shù)據(jù)存儲

 

 應(yīng)用實(shí)例:

醫(yī)療填充物

汽車行業(yè)

 

 太陽能當(dāng)

 

 

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