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Perthometer S2一體化的袖珍型粗糙度儀
- 更新時(shí)間：2017-05-19
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Perthometer S2一體化的袖珍型粗糙度儀表面粗糙度測(cè)試儀，也稱為輪廓儀，測(cè)試儀，粗糙度計(jì)，表面光潔度計(jì)或沖浪粗糙度測(cè)試儀，是用于檢查和測(cè)量機(jī)加工，磨削，磨削的平面，圓形，傾斜面和凹槽的表面粗糙度的設(shè)備，或拋光的金屬和非金屬表面。它用于商店，金屬加工，制造和質(zhì)量控制（QC）應(yīng)用中的計(jì)量。表面粗糙度測(cè)試是一種形式測(cè)量，它識(shí)別表面輪廓，例如凹槽和凹陷，通常稱為表面的峰和谷。粗糙度測(cè)試儀使用
| 品牌 | Mahr/德國(guó)馬爾 |
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Perthometer S2一體化的袖珍型粗糙度儀
表面粗糙度測(cè)試儀，也稱為輪廓儀，測(cè)試儀，粗糙度計(jì)，表面光潔度計(jì)或沖浪粗糙度測(cè)試儀，是用于檢查和測(cè)量機(jī)加工，磨削，磨削的平面，圓形，傾斜面和凹槽的表面粗糙度的設(shè)備，或拋光的金屬和非金屬表面。它用于商店，金屬加工，制造和質(zhì)量控制（QC）應(yīng)用中的計(jì)量。表面粗糙度測(cè)試是一種形式測(cè)量，它識(shí)別表面輪廓，例如凹槽和凹陷，通常稱為表面的峰和谷。粗糙度測(cè)試儀使用具有示蹤器（例如金剛石觸針和壓電檢測(cè)）的滑移型（接觸型）方法來(lái)跟蹤表面輪廓以計(jì)算粗糙度。常見的參數(shù)類型包括Ra（粗糙度平均），Rv（zui大輪廓谷深度）和Rsk（偏度），并評(píng)估輪廓。配置文件可以具有諸如截止值，采樣，遍歷和評(píng)估類型長(zhǎng)度的估值。表面粗糙度測(cè)試儀可以具有模擬或數(shù)字顯示。表面粗糙度測(cè)試儀可以是便攜式，手持式或桌面型。
Perthometer S2一體化的袖珍型粗糙度儀
德國(guó)馬爾粗糙度儀（表面粗糙度檢測(cè)儀）具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍寬、操作簡(jiǎn)便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點(diǎn)，可以廣泛應(yīng)用于各種金屬與非金屬的加工表面的檢測(cè)，該儀器是傳感器主機(jī)一體化的袖珍式儀器，具有手持式特點(diǎn)，更適宜在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用。外形采用拉鋁模具設(shè)計(jì)，堅(jiān)固耐用，抗電磁干擾能力顯著，符合當(dāng)今設(shè)計(jì)新趨勢(shì)。
| Perthometer S2表面粗糙度檢測(cè)儀優(yōu)點(diǎn)介紹： 可根據(jù)現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行粗糙度和波紋度測(cè)量(DIN EN ISO 3274, 如. 帶通濾波器) 盡管包含了充電電池，機(jī)身重量也很輕 大尺寸、高清晰圖形顯示，顯示結(jié)果和輪廓圖形 自動(dòng)提示設(shè)計(jì)和超大按鈕使儀器易于操作 利用內(nèi)置的熱敏打印機(jī)可實(shí)現(xiàn)快捷的文件打印 PCMCIA 存儲(chǔ)卡能存儲(chǔ)測(cè)量程序、結(jié)果和輪廓 附加的S2Prog 編程軟件，方便你輕易新建測(cè)量程序 范圍廣、方便使用的軟件功能，例如 1- 自動(dòng)設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)化濾波器和行程長(zhǎng)度 2- 校準(zhǔn)和維護(hù)周期的自動(dòng)監(jiān)控 3- ARC 功能用于消除arc 影響 4- 動(dòng)態(tài)和靜態(tài)校準(zhǔn)過(guò)程 5- 可評(píng)定多達(dá) 41 參數(shù)，根據(jù)DIN EN ISO, JIS, ASME, MOTIF, R, W, P 和 D 設(shè)定的輪廓參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)，以及MRK/ADK 等特征曲線 6- 多種濾波器和行程長(zhǎng)度可選 7- 聲光信號(hào)提示的公差監(jiān)控 8- 儀器設(shè)置鎖定，以防止意外更改和密碼保護(hù) 9- 內(nèi)置統(tǒng)計(jì)功能 10- 功能鍵鍵計(jì)，一鍵開始某個(gè)獨(dú)立功能 11- 快速調(diào)用和打印某測(cè)量記錄和測(cè)量功能 軟件可通過(guò)PCMCIA 存儲(chǔ)卡進(jìn)行升級(jí) PLC 接口用于集成S2至您生產(chǎn)線上 RS 232 C 接口用于數(shù)據(jù)傳送與遠(yuǎn)程控制 | 德國(guó)馬爾Perthometer S2表面粗糙度檢測(cè)儀技術(shù)參數(shù)：
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