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CCI MP-HS非接觸式光學(xué)輪廓儀3D表面測(cè)量

  • 更新時(shí)間:2021-04-13
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CCI MP-HS非接觸式光學(xué)輪廓儀3D表面測(cè)量
我們創(chuàng)新的CCI MP-HS非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測(cè)量結(jié)果。 一百萬(wàn)高速相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合,無(wú)論是測(cè)量非常粗糙的表面,還是測(cè)量非常光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析

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品牌TaylorHobson/英國(guó)泰勒霍普森價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)品種類非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通,冶金,航天,汽車

CCI MP-HS非接觸式光學(xué)輪廓儀3D表面測(cè)量

無(wú)論測(cè)量的是何種元件,無(wú)論對(duì)分析速度的要求有多高,我們創(chuàng)新的CCI MP-HS非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測(cè)量結(jié)果。 一百萬(wàn)高速相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合,無(wú)論是測(cè)量非常粗糙的表面,還是測(cè)量非常光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。CCI MP-HS很大地?cái)U(kuò)展了分析能力,同時(shí)又不至于讓分析程序變得更復(fù)雜。 您可以測(cè)量各種各樣的元件和表面,不需要進(jìn)行復(fù)雜的測(cè)量模式切換,也不會(huì)給中間透鏡的校準(zhǔn)增加額外的負(fù)擔(dān)。 通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化的方法、程序和報(bào)告,CCI MP-HS可輕松地整合到您的質(zhì)量管理系統(tǒng)中。正是與研究人員和科學(xué)家的密切配合,使得CCI MP-HS可隨時(shí)滿足各領(lǐng)域非??量痰臏y(cè)量要求。通過(guò)擴(kuò)大可測(cè)量的元件范圍,良好的拼接技術(shù)大大增加的本產(chǎn)品的附加值。

儀器特點(diǎn)

。高速攝像頭, 掃描速度高達(dá)100微米/秒。 在高速測(cè)量時(shí)可減少丟失點(diǎn)、降低環(huán)境的影響, 保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
。改進(jìn)拼接功能, 在大面積拼接測(cè)量中顯著縮短測(cè)量時(shí)間。 無(wú)需增加額外費(fèi)用, 就可檢測(cè)更多部件、檢測(cè)更完整和更詳細(xì), 很大地提高成本效益。
。單一掃描模式, 全新的測(cè)量概念。 具有**的“相干相關(guān)”算法能夠在任意掃描范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)亞埃級(jí)分辨率, 處于任一生產(chǎn)階段的所有表面均可使用相同的測(cè)量技術(shù)在同一儀器上進(jìn)行測(cè)量和比較。
。內(nèi)置平臺(tái)整合了ISO標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)三維形貌定義的所有結(jié)果, 是一臺(tái)可用于標(biāo)定的計(jì)量?jī)x器。

節(jié)能減排:

。檢測(cè)速度的加快節(jié)約了測(cè)量時(shí)間, 提高了對(duì)設(shè)備和操作員的利用率。
。堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)節(jié)省了昂貴的維修費(fèi)用。
。使作的簡(jiǎn)便性可減少操作員的培訓(xùn)成本。
 。主機(jī)耗電僅有250W, 在同類產(chǎn)品中耗電*低。

高速測(cè)量而無(wú)需妥協(xié)

       。掃描速度高達(dá)100微米/秒,而不會(huì)損失數(shù)據(jù)質(zhì)量
       。1024 x 1024像素陣列,具有高分辨率的大視野
       。2.2毫米垂直范圍,帶閉環(huán)無(wú)壓電Z軸掃描儀
       。AutoStitch作為標(biāo)準(zhǔn)配置,可在高分辨率下測(cè)量較大的像素
 

提高數(shù)據(jù)質(zhì)量

       。在整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)的分辨率為0.1埃
       。<0.2Åstrom RMS重復(fù)性,<0.1%臺(tái)階高度重復(fù)性
       。集成的防振功能,可實(shí)現(xiàn)*佳噪聲性能
       。新型Claritas 20照明系統(tǒng),角度靈敏度更高,可提高數(shù)據(jù)質(zhì)量

無(wú)限的應(yīng)用可能性

表面的三個(gè)元素對(duì)于組件的功能至關(guān)重要。 **的粗糙度能力與大面積測(cè)量,良好的數(shù)據(jù)分析(2D和3D)以及泰勒·霍布森(Taylor Hobson)的專業(yè)知識(shí)相結(jié)合,可提供業(yè)界**的計(jì)量技術(shù)。 許多用戶依靠CCI MP-HS解決其他儀器*無(wú)法處理的測(cè)量問(wèn)題。憑借出色的量程、*高的分辨率以及操作簡(jiǎn)便的優(yōu)勢(shì),成為在眾多應(yīng)用場(chǎng)合中研發(fā)和質(zhì)量保證的理想工具。

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