泰勒Surtronic ® Duo粗糙度儀測量原理

• 更新時(shí)間：2022-09-06
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泰勒Surtronic ® Duo粗糙度儀測量原理
測量原理：通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機(jī)動驅(qū)動裝置，確保行進(jìn)正確的水平距離。當(dāng)測針劃過波峰和波谷時(shí)，高感應(yīng)度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動，然后將機(jī)械移動轉(zhuǎn)化為電子信號。電子信號將進(jìn)行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器，然后使用標(biāo)準(zhǔn)化算法即時(shí)計(jì)算表面粗糙度參數(shù)。

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泰勒Surtronic ® Duo粗糙度儀測量原理

測量原理：通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機(jī)動驅(qū)動裝置，確保行進(jìn)正確的水平距離。當(dāng)測針劃過波峰和波谷時(shí)，高感應(yīng)度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動，然后將機(jī)械移動轉(zhuǎn)化為電子信號。電子信號將進(jìn)行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器，然后使用標(biāo)準(zhǔn)化算法即時(shí)計(jì)算表面粗糙度參數(shù)。

儀器簡介：

英國泰勒公司Surtronic ® Duo粗糙度儀是一種便攜式表面粗糙度測量儀，只需按一鍵即可測量多個(gè)粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進(jìn)行快速、輕松和的現(xiàn)場測量。

提供參數(shù)：ISO 4287粗糙度*

Rt – 峰谷值

Rp –zui大波峰值

Rv – zui大波谷值

Rz – 平均峰谷值

Ra – 算術(shù)平均值

其它參數(shù)，包括：Rsk, Rku,Rq,Rz1max

特點(diǎn):

· 測量 - 觸覺測量按鈕，適用難測到的位置

· 分體式 - 通過滑軌和鎖定裝置，分為顯示/控制裝置和驅(qū)動裝置兩部分

· 金剛石測針和壓電傳感器 -

-----------帶金剛石的堅(jiān)固耐磨的壓電傳感器測針，確保測量結(jié)果的可靠性。

· 藍(lán)牙技術(shù) - 在驅(qū)動裝置和顯示/控制裝置之間進(jìn)行快速可靠的通信

泰勒Surtronic ® Duo粗糙度儀測量原理

快速可靠的測量

輕輕的按下測量按鈕，在幾分鐘內(nèi)就能得到一個(gè)完整的可追溯的測量結(jié)果，包括可在屏幕上顯示的詳細(xì)輪廓曲線圖。

特殊設(shè)計(jì)，堅(jiān)固耐用

整個(gè)機(jī)身由塑化橡膠包裹。聚脂薄膜保證了觸摸屏的持久耐用性，適用于zui苛刻的工業(yè)環(huán)境。

InstantOn這些儀器采用InstantOn技術(shù)，開機(jī)后不到5秒鐘就能開始測量！

現(xiàn)場測量

在現(xiàn)場檢測產(chǎn)品磨損和粗糙度的變化，預(yù)估產(chǎn)品的壽命。例如，檢測渦輪片表面粗糙度的變化，作為早期缺陷和效率損失的預(yù)警信號。

用戶友好使用界面

Surtronic Duo就像智能手機(jī)一樣簡單易用。用戶可以快速直觀地使用三按鈕菜單，體驗(yàn)清晰的2.4英寸的工業(yè)彩色LCD屏幕。

藍(lán)牙連接

采用新一代藍(lán)牙技術(shù)，支持在顯示裝置和驅(qū)動裝置之間進(jìn)行高效率無線通信。

電力持久

采用可靠的大容量鋰電池技術(shù)，Surtronic Duo支持全天候使用，充一次電便可進(jìn)行2000多次測量。

應(yīng)用領(lǐng)域：

• 過程控制 – 研磨、車削、銑削 、珩磨、拋光、擠壓

• 重工業(yè) – 造船、管道 、鋼板

• 航空航天 – 渦輪葉片、渦輪軸、機(jī)翼復(fù)合材料

• 其它 – 印刷輥、地板、壓焊、玻璃

Surtronic Duo便攜式表面粗糙度測量儀的理念是簡單至上。每位檢驗(yàn)員都能通過此工具檢查表面粗糙度，即便更苛刻的應(yīng)用也不例外。
• 材料檢驗(yàn)
• 出廠檢驗(yàn)
• 生產(chǎn)線過程控制
• 檢查大型組件或零配件

英國泰勒Taylor-Hobson是粗糙度儀和輪廓儀、圓度儀及圓柱度儀的發(fā)明者，提供從手持的現(xiàn)場級測量設(shè)備Surtronic粗糙度儀，精密計(jì)量室的大型測量系統(tǒng)Talyrond 565，以及用于研發(fā)而具有世界zui高精度的CCI和圓度儀。憑借百年的深厚底蘊(yùn)和強(qiáng)大技術(shù)優(yōu)勢，Taylor- Hobson在精密測量領(lǐng)域中始終處于地位，并站在表面和形狀測量領(lǐng)域的zui前沿。