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泰勒霍布森智能小型粗糙度儀Surtronic Duo 泰勒霍布森的Surtronic Duo與HSE滑差評估工具(SAT)一起廣泛使用,用于評估滑倒事故風險的軟件。由于“遙控”操作,理想地適合地板測量,新型Surtronic Duo使用熟悉的智能手機技術來提高性能: ※Surtronic Duo使用的藍牙技術在測量頭和遙控器之間進行快速,可靠的通信 - 操作人員可以將測量頭放在地板部分進行
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AMETEK Taylor Hobson Surtronic DUO粗糙度儀質量控制 精密金屬加工市場和涉及高容差工程產品制造商的其他行業(yè)計量系統(tǒng)制造商。 系統(tǒng)包括廣泛的圓度和幾何測量儀器,用于測量圓度,直線度,平行度,圓柱度,同心度和方形度。 表面處理,表格和輪廓分析儀,三維表面紋理分析和便攜式粗糙度測試儀,用于測量多個表面紋理參數。
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泰勒SURTRONIC DUO粗糙度儀 型號:SURTRONIC DUO 探頭系統(tǒng):探頭系統(tǒng) 表面粗糙度測量范圍:199μm,40μm 掃描路徑:5mm 表面粗糙度分辨率:0.01μm 閾值波長:0.8 mm
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泰勒霍布森超精密粗糙度儀Surtronic DUO 泰勒霍布森是一家超精密技術公司,在表面和表面計量領域以Z高的精度進行操作。為范圍內Z苛刻的應用提供和非接觸式測量解決方案,并提供基礎設施,以支持泰勒的客戶,無論他們在哪里。 為了留在我們的領域,我們在研發(fā)方面投入巨資,并擁有廣泛的知識產權組合(IP),作為和知識產品,不斷擴大。
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Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀 型號:SURTRONIC DUO 探頭系統(tǒng):探頭系統(tǒng) 表面粗糙度測量范圍:199μm,40μm 掃描路徑:5mm 表面粗糙度分辨率:0.01μm 閾值波長:0.8 mm